封裝金線冷熱沖擊試驗箱 是一種專門用于測試封裝金線（如在半導(dǎo)體封裝、光伏組件封裝等領(lǐng)域使用的金屬線）在極端溫度變化下的耐受性和穩(wěn)定性的設(shè)備。封裝金線通常用于連接集成電路芯片、太陽能電池板等電子元件，它在高溫和低溫環(huán)境中可能會面臨物理變化、斷裂或老化等問題。冷熱沖擊試驗通過模擬金線在實際應(yīng)用過程中遭遇的溫度劇烈變化，評估其在溫差沖擊下的性能表現(xiàn)。
封裝金線的冷熱沖擊試驗箱用于模擬和檢測金線在經(jīng)歷快速溫度變化時的性能變化，尤其是其在極端溫度條件下的物理穩(wěn)定性、粘接力、導(dǎo)電性等方面的表現(xiàn)。此類試驗對于電子元件的可靠性評估、質(zhì)量控制以及壽命預(yù)測具有重要作用。
在封裝金線的冷熱沖擊測試中，試驗箱通過高溫和低溫之間的急劇變化，模擬金線在實際使用中可能遇到的環(huán)境變化。通常的試驗過程包括以下幾個步驟：
樣品準(zhǔn)備：
選擇一定數(shù)量的封裝金線樣品，通常是在集成電路（IC）、半導(dǎo)體封裝或光伏組件等產(chǎn)品中應(yīng)用的金線。
樣品通常包括金線與封裝基材（如塑料、陶瓷基板等）的連接部分，以全面評估金線在溫度變化下的表現(xiàn)。
溫度設(shè)定：
高溫和低溫的極限通常由金線材料的性能來決定。典型的溫度范圍是高溫 100°C 至 150°C，低溫 -40°C 至 -70°C。
溫度變化速率也需要設(shè)定，通常為每分鐘 10°C 至 20°C，以模擬實際應(yīng)用中溫度的急劇波動。
冷熱交替測試：
溫度從高溫區(qū)域快速切換至低溫區(qū)域，或反向切換，模擬金線在使用過程中可能遭遇的快速溫度變化（如從太陽暴曬的高溫到冷空氣中的低溫）。
測試通常需要經(jīng)歷多次冷熱循環(huán)，以確保測試結(jié)果的可靠性和全面性。
溫度穩(wěn)定時間：
每次溫度切換后，試驗箱會保持穩(wěn)定的溫度一段時間，確保金線樣品適應(yīng)新的環(huán)境溫度。這段時間一般為 10 分鐘至 1 小時，具體時間根據(jù)測試要求而定。
測試周期：
熱冷沖擊的周期數(shù)可能會根據(jù)金線的用途和耐用性要求有所不同，通常從幾十次到幾百次不等。測試周期數(shù)越多，能夠提供越全面的金線性能數(shù)據(jù)。
后期檢查與評估：
完成冷熱循環(huán)后，金線的物理狀態(tài)、導(dǎo)電性能、粘接性等都會進(jìn)行檢測。
主要觀察金線是否出現(xiàn)斷裂、變形、界面分離、氣泡、表面損傷等現(xiàn)象。
在封裝金線冷熱沖擊試驗中，通常需要關(guān)注以下幾個關(guān)鍵性能指標(biāo)：
物理穩(wěn)定性：
評估金線在冷熱沖擊過程中是否發(fā)生斷裂、變形或裂紋等現(xiàn)象。冷熱沖擊可能會導(dǎo)致金線和基板之間的連接出現(xiàn)松動或斷裂，影響產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
導(dǎo)電性：
檢測金線是否保持良好的導(dǎo)電性能。由于冷熱交替可能導(dǎo)致金線表面發(fā)生微觀變化，影響其導(dǎo)電性，因此對導(dǎo)電性的測試非常重要。
粘接性：
金線與封裝基材的粘接力是否穩(wěn)定。冷熱沖擊試驗可以暴露出溫差引起的粘接界面失效問題，導(dǎo)致金線脫落或連接不良。
金線的塑性變形：
在高溫環(huán)境中，金線可能變軟，而在低溫環(huán)境中則變硬。測試是否會出現(xiàn)金線因溫差造成的塑性變形，影響連接的可靠性。
表面損傷：
檢查金線表面是否出現(xiàn)裂紋、氣泡或表面劃痕等現(xiàn)象，這些損傷可能會影響金線的性能，特別是在微電子封裝中。
熱膨脹與應(yīng)力：
溫差變化會導(dǎo)致金線和基材之間的熱膨脹系數(shù)不同，從而產(chǎn)生應(yīng)力，可能導(dǎo)致金線的斷裂或剝離。因此，需要評估金線在熱膨脹應(yīng)力下的穩(wěn)定性。
溫度控制精度：
封裝金線冷熱沖擊試驗箱需要具備精準(zhǔn)的溫度控制系統(tǒng)，確保溫度的快速變化和穩(wěn)定性，以保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
快速溫度變化能力：
設(shè)備應(yīng)具備較高的溫度變化速率，通常要求每分鐘溫度變化 10°C 至 20°C，以模擬快速的溫度沖擊。
溫度均勻性：
試驗箱內(nèi)部需要保持溫度均勻性，避免局部溫差過大對測試結(jié)果的影響。
高穩(wěn)定性與抗震性：
由于冷熱交替試驗會造成設(shè)備內(nèi)部壓力和溫度的快速變化，設(shè)備需要具有良好的抗震和穩(wěn)定性，避免試驗過程中的不必要干擾。
數(shù)據(jù)記錄與分析系統(tǒng)：
試驗箱需要配備數(shù)據(jù)記錄與分析系統(tǒng)，能夠?qū)崟r記錄和監(jiān)控測試過程中的溫度變化、測試時間和金線狀態(tài)變化，便于后期分析。
安全保護(hù)功能：
為了防止設(shè)備故障導(dǎo)致意外，試驗箱應(yīng)具備過溫、過冷、過載保護(hù)功能，確保設(shè)備和樣品的安全。
封裝金線冷熱沖擊試驗箱的設(shè)計和測試過程需要符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，確保設(shè)備的可靠性和測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。以下是一些與封裝金線冷熱沖擊試驗相關(guān)的主要標(biāo)準(zhǔn)和要求：
IEC 60068-2-14：這是一項國際電子設(shè)備環(huán)境測試標(biāo)準(zhǔn)，定義了冷熱沖擊試驗的要求。該標(biāo)準(zhǔn)適用于電子組件、元件以及其他設(shè)備，提供了冷熱沖擊測試的程序和溫度范圍。
標(biāo)準(zhǔn)概述：此標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了設(shè)備在快速冷熱變化下的性能要求，適用于測試電子元件對溫差變化的耐受性。
應(yīng)用：廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體器件及相關(guān)領(lǐng)域的可靠性測試。
JEDEC JESD22-A104：這是JEDEC（半導(dǎo)體工程協(xié)會）發(fā)布的關(guān)于溫度循環(huán)測試的標(biāo)準(zhǔn)，常用于半導(dǎo)體組件的驗證，包括金線的穩(wěn)定性評估。
標(biāo)準(zhǔn)概述：該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了溫度變化的速率、時間、溫度范圍等測試要求，適用于集成電路(IC)、電子組件等設(shè)備的可靠性測試。
GB/T 2423.22-2002：這是中國的環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)，涉及電子產(chǎn)品在冷熱循環(huán)下的測試方法。該標(biāo)準(zhǔn)類似于IEC 60068-2-14，規(guī)定了試驗的溫度范圍、時間、周期等要求。
標(biāo)準(zhǔn)概述：該標(biāo)準(zhǔn)用于評估電子產(chǎn)品在極端溫度變化下的可靠性，適用于多種電子元件和設(shè)備。
GB/T 10215-2006：這是中國的溫度沖擊試驗標(biāo)準(zhǔn)，主要用于檢驗電子元件在不同溫度條件下的適應(yīng)性，特別適合用于半導(dǎo)體封裝和電子組件的耐用性評估。
標(biāo)準(zhǔn)概述：規(guī)定了設(shè)備在進(jìn)行溫度循環(huán)時需要滿足的溫度范圍、溫度變化速率等技術(shù)參數(shù)。
MIL-STD-883：這是美國軍事標(biāo)準(zhǔn)，涉及半導(dǎo)體封裝和電子元件的可靠性測試。標(biāo)準(zhǔn)中包括了對電子元件進(jìn)行冷熱沖擊和溫度循環(huán)測試的要求，常用于航空航天和軍事領(lǐng)域的組件測試。
標(biāo)準(zhǔn)概述：該標(biāo)準(zhǔn)適用于要求極高可靠性的電子組件，規(guī)定了溫度循環(huán)的具體條件和測試方法。
ISO 16750-4：這是國際汽車行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，涉及汽車電子設(shè)備的環(huán)境測試，包括冷熱沖擊測試。它的目的是評估汽車電子元件在極端溫度條件下的可靠性。
標(biāo)準(zhǔn)概述：該標(biāo)準(zhǔn)適用于汽車電子產(chǎn)品，涉及到溫度循環(huán)和冷熱沖擊測試，以確保設(shè)備能夠在極端環(huán)境下正常工作。
溫度范圍：標(biāo)準(zhǔn)通常規(guī)定冷熱沖擊試驗的溫度范圍，典型的溫度范圍為 -40°C 至 +125°C 或 -60°C 至 +150°C，具體取決于設(shè)備的應(yīng)用要求。
溫度變化速率：溫度變化速率也是重要的標(biāo)準(zhǔn)要求，通常為每分鐘 10°C 至 20°C，以模擬設(shè)備在實際使用中遇到的快速溫度變化。
試驗周期：標(biāo)準(zhǔn)中會規(guī)定冷熱循環(huán)的次數(shù)，通常為幾十次到幾百次不等，確保測試的全面性和可靠性。
溫度穩(wěn)定時間：在每個溫度點，通常會要求保持一定的穩(wěn)定時間，確保測試環(huán)境達(dá)到所需溫度并維持一定時間，典型的穩(wěn)定時間為 10 分鐘至 1 小時。
設(shè)備精度：標(biāo)準(zhǔn)對溫度控制和穩(wěn)定性有嚴(yán)格要求，設(shè)備應(yīng)具有較高的溫控精度和均勻性，確保每個測試周期中的溫度變化符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
溫度控制：設(shè)備應(yīng)具備高精度的溫控系統(tǒng)，能夠快速變化溫度，并在不同的溫度點保持穩(wěn)定。
可靠性與安全性：試驗箱應(yīng)具備完善的安全防護(hù)功能，如過溫保護(hù)、過載保護(hù)等，確保設(shè)備在運行過程中不會發(fā)生故障。
數(shù)據(jù)記錄與分析：設(shè)備應(yīng)具備實時監(jiān)控和數(shù)據(jù)記錄功能，能夠準(zhǔn)確記錄每次測試的溫度變化、樣品狀態(tài)等數(shù)據(jù)，便于后期分析和報告生成。
封裝金線冷熱沖擊試驗箱必須滿足國際和國內(nèi)相關(guān)的測試標(biāo)準(zhǔn)，如IEC 60068-2-14、GB/T 2423.22等。這些標(biāo)準(zhǔn)對溫度范圍、變化速率、試驗周期等方面有詳細(xì)的要求，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。通過符合這些標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備和測試過程，可以準(zhǔn)確評估封裝金線在極端溫度變化下的性能，為產(chǎn)品的質(zhì)量控制和可靠性分析提供有力支持。
內(nèi)箱容積: | 50L、100L、150L、1000L（可按需訂制不同尺寸） |
內(nèi)箱尺寸: | W350mm*H400mm*D350mm |
外箱尺寸: | 1230×1830×1270（W×H×D） |
溫度范圍 : | -70℃ ~+150℃ |
溫度偏差 : | ±0.3℃ |
溫濕度均差: | ±2℃ |
儲冷時間: | RT→－75℃ ≤ 65min |
儲熱時間: | RT→170℃ ≤ 35min |
內(nèi)箱材質(zhì): | SUS#304鋼板 |
外箱材質(zhì): | A3冷扎鋼板靜電噴涂 |
壓縮機(jī): | 原裝進(jìn)口壓縮機(jī)（泰康/博客） |
運行方式： | 程序方式、定值方式 |
冷卻方式: | 風(fēng)冷或水冷 |
通訊接口: | RS232、USB |
冷凝器: | 不銹鋼釬焊板式換熱器 |
加熱器/蒸發(fā)器: | 鎳鉻合金電加熱器/翅片式蒸發(fā)器 |
標(biāo)準(zhǔn)配置: | 測試孔、照明燈、2塊隔層架、雙層真空玻璃觀察窗 |
電源: | AC380V 50/60HZ |
廣東德瑞檢測設(shè)備有限公司對其所銷售的產(chǎn)品采取統(tǒng)一的服務(wù)規(guī)范和流程。旨在強(qiáng)化企業(yè)管理，完善售后服務(wù)體系，保障用戶合法權(quán)益。使儀器能夠充分發(fā)揮其功能，為用戶最大程度地服務(wù)，最大程度地創(chuàng)造效益。
二、儀器設(shè)備的安裝、驗收
1、我公司負(fù)責(zé)將儀器運輸?shù)接脩糁付ǖ攸c。
2、用戶在收到儀器7天內(nèi)，進(jìn)行仔細(xì)檢查，有問題及時和我公司聯(lián)系，否則過期不予更換。
3、儀器到達(dá)指定地點后，我公司將派人員按合同進(jìn)行系統(tǒng)安裝與軟件調(diào)試，確保系統(tǒng)能按合同要求及期限進(jìn)入正常運行。
三、技術(shù)培訓(xùn)
1、培訓(xùn)目標(biāo)
① 硬件：通過培訓(xùn)能使客戶了解硬件產(chǎn)品的組成，其工作原理，基本掌握儀器的操作，及操作注意事項。
② 軟件：通過培訓(xùn)能使客戶了解該軟件的功能，基本掌握軟件的操作，能夠進(jìn)行實際操作測試。
2、培訓(xùn)地點
一般為客戶單位，在我公司也可以。
3、培訓(xùn)次數(shù)
我公司可免費為用戶培訓(xùn)兩次，第三次開始將收一定費用（主要是技術(shù)人員的差旅及薪資）。
四、保修條例
軟件的升級我司所有儀器含電腦軟件產(chǎn)品，提供免費升級，保證與新標(biāo)準(zhǔn)同步廣東德瑞檢測設(shè)備有限公司保修條例我們根據(jù)國際慣例和國內(nèi)具體情況，遵循如下保修條例：
1、您所購買儀器免費保修期為壹年(有特別說明的按照說明)，從購買產(chǎn)品之日起算。在此期間，您的儀器如果發(fā)生問題，可以到本公司進(jìn)行免費咨詢并提供保修服務(wù)（耗材用品不在保修之列）。長期提供技術(shù)咨詢、維護(hù)服務(wù)。
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①用戶使用不當(dāng)，或未按照儀器使用說明進(jìn)行操作而造成的故障
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