GBT 5170.19-2018 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第19部分：溫度、振動(dòng).pdf

GB/T5170.19-2018環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第19部分∶溫度、振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備

1  范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了——測(cè)量?jī)x器、測(cè)量不確定度、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期。

本部分適用于GB/T2423.35、GB/T2423.36和GB/T2424.22溫度（低溫、高溫）、振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

2  規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T 2423.35  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分∶試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Z/AFe∶散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)（GB/T2423.35—2005，IEC60068-2-50∶1983，IDT）

GB/T 2423.36 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分∶試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Z/BFc∶散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)（GB/T2423.36—2005，IEC60068-2-51∶1983，IDT）

GB/T 5170.1—2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第1部分∶總則

GB/T 16839.1  熱電偶  第1部分∶電動(dòng)勢(shì)規(guī)范和允差（GB/T 16839.1—2018，IEC60584-1∶2013,IDT)

GB/T 30121  工業(yè)鉑熱電阻及鉑感溫元件（GB/T 30121—2013，IEC 60751∶2008，IDT）

JJF 1059.1—2012  測(cè)量不確定度評(píng)定與表示